可編程高低溫濕熱試驗箱
           設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。

    本試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
型號        工作室尺寸 （cm）
TH-150      W50×D50×H60  
TH-1000     W100×D100×H100  
TH-225      W50×D60×H75 
TH-408      W60×D80×H85  
TH-800      W80×D100×H100
TH-1500     W100×D150×H100
技術(shù)參數(shù)：
波動度：±0.5℃
均勻度：±2℃
保溫材料：超細玻璃纖維保溫棉/硬質(zhì)聚胺脂發(fā)泡
外箱材料：冷軋板靜電噴塑/SUS304不銹鋼（任選一種）
升溫速率：3.0℃/min   （ 可按客戶要求定做）
降溫速率：0.7～1℃/min    （可按客戶要求定做）
內(nèi)箱材料：SUS304不銹鋼板
箱門密封：雙層耐高、低溫防老化及硬化精制硅膠密封條
溫度范圍
A型: 0℃～+100℃（+150℃）
B型: -20℃～+100℃（+150℃）
C型: -40℃～+100℃（+150℃）
D型: -70℃～+100℃（+150℃） 
設(shè)備符合標準：
GB2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB 10589 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
GB2423.2 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB 10592 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB2424.1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則
GB 11158 高溫試驗箱技術(shù)條件
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